PO700 - Cristalografia e Difração de Raios-X - 2S/2026 Imprimir

Ementa:

Estrutura Cristalina. Simetria de Cristais. Produção, Propriedades e Detecção dos Raios-X. Difração de Raios-X. Métodos Experimentais de Difração de Raios-X. Caracterização de Materiais por Difração de Raios-X. Métodos de refinamento de estruturas cristalinas.

Bibliografia:

CULITY, B. D.; STOCK, S. R. Elements of X-ray diffraction. 3. ed. Upper Saddle River: Pearson, 2001.

NASSAU, K. The physics and chemistry of color: the fifteen causes of color. 2. ed. Hoboken: Wiley, 2001. (capítulos introdutórios úteis para aplicações ópticas de cristalografia)

PETTIFOR, D. G. Bonding and structure of molecules and solids. 1. ed. Oxford: Oxford University Press, 1995.

GIACOVAZZO, C. (Ed.). Fundamentals of crystallography. 3. ed. Oxford: Oxford University Press, 2011.

PECHARSKY, V. K.; ZAVALIJ, P. Y. Fundamentals of powder diffraction and structural characterization of materials. 2. ed. New York: Springer, 2009.

Ano de Catálogo: 2026

Créditos: 4